Исследование модифицированных приповерхностных областей материалов и тонких плёнок ядерно-физическими методами (19.07.2010)

Автор: Лебедев Виктор Михайлович

Алиев Р.А., Андреев В.Н., Лебедев В.М. и др., Влияние вакуумной термообработки тонких пленок диоксида ванадия на фазовый переход металл-полупроводник // Журнал технической физики. 2005. Т. 75. Вып. 6. С. 81-84.

Лебедев В.М., Васильев А.А., Взнуздаев М.Е. и др., Изготовление, определение состава и толщины самоподдерживающихся тонких углеродных пленок. // Сборник трудов V Международной конференции “Аморфные и микрокристаллические полупроводники”. С.-Петербург, 19-21 июня 2006 г. Издательство Политехнического университета. С. 114-115.

Лебедев. В.М., Крившич А.Г., Смолин В.А., Исследование старения газоразрядных детекторов частиц методом ядерных реакций. // Научно-технический сборник «Вопросы атомной науки и техники». Серия: «Физика ядерных реакторов». 2006. Выпуск 2. Москва. С.48-55.

Кудоярова В.Х., Козюхин С.А., Лебедев В.М. и др., Состав аморфных пленок As2Se3, модифицированных комплексным соединением Ln(thd)3, (Ln=Eu, Tb), по данным ядерного микроанализа. // Неорганические материалы. 2006. Т. 42. № 8. С. 939-944.

Гурьянов А.М., Пашин А.В., Лебедев В.М. и др. Распределение компонентов в кремниевых МДМ-структурах с диэлектрическими пленками из оксидов редкоземельных элементов. // Вестник Самарского государственного университета. Естественнонаучная серия. 2006. № 2. С. 147-154.

Brazhkin V.V., Ekimov E.A., Lebedev V.M. et al., Lattice parameters and thermal expansion of superconducting boron-doped diamonds // Physical Review. 2006. B74. № 14. P. 140502-1–140502-4.

Данишевский А.М., Лебедев В.М., Рогачев А.Ю. и др., Фотолюминесценция слоев SiO2, приготовленных на пленках ?-SiC, и анализ их элементного состава. // Физика твердого тела. 2007. Т. 49. № 5. С. 791-797.

Kozyukhin S.A., Kudoyarova V.Kh., Lebedev V.M. et al., Rutherford backscattering spectroscopy and surface morphology of amorphous As2Se3 films modified with complex compounds Ln(thd)3 (Ln=Eu, Tb, Er, Yb). // Physics and Chemistry of Solids, 2007, V. 68. Issues 5-6. P. 1117-1120.

Лебедев В.М., Крившич А.Г., Смолин В.А. Исследование старения газоразрядных детекторов частиц методом ядерных реакций. // Известия РАН. Серия физическая. 2007. Т. 71. № 3. С. 461-467.

Кудоярова В.Х., Козюхин С.А., Лебедев В.М., Исследование фотолюминесценции и состава аморфных пленок As2Se3, модифицированных

комплексным соединением Er(thd)3 // Физика и техника полупроводников.

2007. Т. 41. Вып. 8. С. 934-940.

Krivchitch A.G., Lebedev V.M., Application of nuclear analysis for the fluorine content measurements under the aging investigations of gas-filled particle detectors. // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section 2. 2007. A381.

N 1. P. 167-170.

Ундалов Ю.К., Теруков Е.И., Лебедев В.М. и др., Связь состава пленок

?-SiOх:H<Er,O> и интенсивности фотолюминесценции ионов эрбия с изменениями электрического поля в dc-магнетроне // Сборник трудов

VI Международной конференции “Аморфные и микрокристаллические полупроводники”. С.-Петербург. 7-9 июля 2008 г. Санкт-Петербург, Издательство Политехнического университета. 2008. С. 34-35.

Кудоярова В.Х., Козюхин С.А., Лебедев В.М. и др., Исследование фотолюминесценции и состав аморфных пленок As2S3, модифицированных комплексным соединением Eu(thd)3.// Сборник трудов VI Международной конференции “Аморфные и микрокристаллические полупроводники”.

С.-Петербург. 7-9 июля 2008 г. Санкт-Петербург, Издательство Политехнического университета. 2008. С. 190-191.

Ундалов Ю.К., Теруков Е.И., Лебедев В.М. и др., Влияние электрического поля при получении пленок ?-SiOx :H<Er,O> методом магнетронного распыления на постоянном токе на их состав и интенсивность фотолюминесценции ионов эрбия, // Физика и техника полупроводников, 2008, № 11, с. 1357-1362.

Gusev V.K., Alimov V.Kh., Lebedev V.M. et al., Plasma-Wall Interaction in the Open Divertor of Globus-M Spherical Tokamak. // Proc. of 22nd IAEA Fusion Energy Conference (13–18 October 2008, Geneva, Switzerland), EX/P4-10.

Gusev V.K., Alimov V.Kh., Lebedev V.M. et al., Recrystallized Graphite Utilization as the First Wall Material in Globus-M Spherical Tokamak // Journal of Nuclear Materials. 2009. V. 386-388. P. 708-711.

Gusev V.K., Alimov V.Kh., Lebedev V.M. et al., In-vessel surface layer evolution during plasma-wall interaction in the Globus-M spherical tokamak // Nuclear Fusion, 2009, V. 49. № 9. P. 095022 (6 pp).

Gusev V.K., Aleksandrov S.E., Lebedev V.M. et al., Overview of results obtained at the Globus-M Spherical Tokamak // Nucl. Fusion, 2009. V. 49. № 10.

P.104021 (11 рр).

Латухина Н.В., Лебедев В.М., Журавель Л.В. и др., Легирование кремния методом диффузии // Известия вузов. Материалы электронной техники. 2009, № 2. С.13-16.

XeFn; F(;F(

Рис. 3. Экспериментальные спектры протонов, продуктов ядерных реакций (d,p) с кислородом и углеродом, находящимися на поверхности и в приповерхностном слое облучен-ной анодной проволоки. Энергия дейтронов 0,9 МэВ. Толщина алюминиевого фильтра на детекторе 3 мг/см2. Доза 1,6 Кл/см

0 5 10 15

0 R (м) 0,9

Концентрация,

ат/см 3

Облучение

Рис. 6. Спектр протонов и

?-частиц, образовавшихся в результате ядерных реакций 16O(d,p)17O, 16O(d,?)14N и 12С(d,p)13C на ядрах кислорода и углерода, и рассеянных дейтронов, полученный при облучении дейтронами пленки аморфного гидрогенизированного кремния, легиро-ванного эрбием и кислородом

(?-SiOx:Н<Er,О>), толщиной 0,7 мкм на подложке из кристаллического кремния c-Si

Рис. 8. Экспериментальные спектры: а) рассеянных дейтронов и

b) продуктов ядерных реакций от пленок As2Se3:Er(thd)3 на кремниевой подложке. Энергия дейтронов 1 МэВ. Угол рассеяния 135о

Рис. 9. Содержание атомов Eu, Tb и Er (кружки), кислорода (треугольники вершиной вниз) и углерода (треугольники вершиной вверх) в пленках As2Se3:Ln(thd)3 в зависимости от относительной концентрации комплексного соединения ? в исходной смеси, применяемой для напыления

Рис. 11 Сечение нижней части вакуумной камеры токамака с вписанной в нее магнитной конфигурацией. Стрелками показаны потоки частиц и тепла на диверторные пластины. Цифрами указаны номера исследованных образцов и их положение в камере.


загрузка...